半自動(dòng)臺(tái)階儀 JS100B 參考價(jià)：300000
半自動(dòng)臺(tái)階儀 JS100B 國(guó)產(chǎn)半自動(dòng)臺(tái)階儀JS100B/200B/300B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。JS100B...
手動(dòng)臺(tái)階儀 JS10B 參考價(jià)：250000
國(guó)產(chǎn)手動(dòng)手動(dòng)臺(tái)階儀 JS10B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。JS10B提供一個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，可無畸變...
全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS2000B 參考價(jià)：400000
國(guó)產(chǎn)全全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS2000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。JS2000B提供兩個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，...
全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS3000B 參考價(jià)：500000
國(guó)產(chǎn)全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS3000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。JS2000B提供兩個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，可...
ZEM 20Pro單晶燈絲臺(tái)式掃描電鏡 參考價(jià)：700000
ZEM 20Pro單晶燈絲臺(tái)式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬(wàn)倍，分辨率可達(dá)3nm。自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、大圖拼接。超大樣品倉(cāng)可集成多種原位拓展平臺(tái)，滿...
澤攸ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：600000
澤攸ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡操作簡(jiǎn)便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌。
ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：600000
ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡操作簡(jiǎn)便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌。
ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：450000
ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，無重影、拖影，不錯(cuò)過每一個(gè)細(xì)節(jié)。
澤攸ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：450000
澤攸ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，無重影、拖影，不錯(cuò)過每一個(gè)細(xì)節(jié)。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺(tái)（拉伸...
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 參考價(jià)：600000
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、1000N原位拉伸樣品臺(tái)，實(shí)...
澤攸ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：380000
▲ 即插即用：用戶可以快速使用，無需復(fù)雜的安裝過程?！?體積小巧：便于放置在普通的實(shí)驗(yàn)臺(tái)面上，節(jié)省空間?！?高性價(jià)比：預(yù)對(duì)中鎢燈絲設(shè)計(jì)，用戶可以自行更換，降低了...
ZEM15C臺(tái)式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
ZEM15C臺(tái)式掃描電鏡秉承操作便捷、快速成像、性能穩(wěn)定的設(shè)計(jì)目標(biāo)，澤攸科技自主研發(fā)了鎢燈絲ZEM15C臺(tái)式掃描電子顯微鏡。
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級(jí)空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測(cè)量或全溫區(qū)測(cè)量功能。
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì)，更易封裝液體。實(shí)驗(yàn)中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個(gè)大氣壓。...
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測(cè)量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測(cè)條件。
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
澤攸STM-TEM力電一體測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸STM-TEM力電一體測(cè)量系統(tǒng) 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
澤攸STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng) ,是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
澤攸透射電鏡原位高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量。
澤攸MEMS-STM-TEM多場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸MEMS-STM-TEM多場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)，原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場(chǎng)環(huán)境（包括力、熱、光、電等）。
澤攸干式液氦溫區(qū)探針臺(tái) LHe-6H-06 參考價(jià)：面議
澤攸干式液氦溫區(qū)探針臺(tái) LHe-6H-06產(chǎn)品特點(diǎn)，真空腔體：真空度優(yōu)于610-4 Pa。降溫后優(yōu)于610-5 Pa。留有2個(gè)用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或...
澤攸室溫自動(dòng)探針臺(tái) TZ-H-06 參考價(jià)：面議
澤攸室溫自動(dòng)探針臺(tái) TZ-H-06，高可靠性探針臺(tái)系統(tǒng)，主要應(yīng)用在半導(dǎo)體/微電子， 電子，機(jī)電，物理，化學(xué)，材料，光電，納米，微機(jī)電/MEMs，生物芯片等科學(xué)研...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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